Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010. Proceedings
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Sprache:Englisch
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
30.07.2010
Herausgeber
Edwin R. Hancock + weitereVerlag
Springer BerlinSeitenzahl
758
Maße (L/B/H)
23,6/15,8/4,1 cm
Gewicht
1092 g
Auflage
2010
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-642-14979-5
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