Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010. Proceedings
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
30.07.2010
Abbildungen
XV, 758 p. 246 illus.
Herausgeber
Edwin R. Hancock + weitereVerlag
Springer BerlinSeitenzahl
758
Maße (L/B/H)
2,9/15,6/23,7 cm
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-642-14979-5
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