Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997
485,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
01.01.1998
Verlag
Taylor and FrancisSeitenzahl
548
Maße (L/B/H)
24/16,1/3,4 cm
Gewicht
980 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-7503-0500-6
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