Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
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Sprache:Englisch
93,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
03.08.2006
Abbildungen
XXI, 939 p.
Herausgeber
Dit-Yan Yeung + weitereVerlag
Springer BerlinSeitenzahl
939
Maße (B/H)
15,5/23,5 cm
Gewicht
1431 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-540-37236-3
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