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Leakage in Nanometer CMOS Technologies

Aus der Reihe Integrated Circuits and Systems
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139,99 € UVP 160,49 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

17.11.2005

Abbildungen

X, 308 p.

Herausgeber

Siva G. Narendra + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

308

Maße (L/B/H)

24,1/16,1/2,3 cm

Gewicht

599 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-387-25737-2

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Erscheinungsdatum

17.11.2005

Abbildungen

X, 308 p.

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Springer Us

Seitenzahl

308

Maße (L/B/H)

24,1/16,1/2,3 cm

Gewicht

599 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-387-25737-2

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Taxonomy of Leakage: Sources, Impact, and Solutions.- Leakage Dependence on Input Vector.- Power Gating and Dynamic Voltage Scaling.- Methodologies for Power Gating.- Body Biasing.- Process Variation and Adaptive Design.- Memory Leakage Reduction.- Active Leakage Reduction and Multi-Performance Devices.- Impact of Leakage Power and Variation on Testing.- Case Study: Leakage Reduction in Hitachi/Renesas Microprocessors.- Case Study: Leakage Reduction in the Intel Xscale Microprocessor.- Transistor Design to Reduce Leakage.