Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
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Sprache:Englisch
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
31.03.1986
Abbildungen
XII, 454 p.
Verlag
Springer UsSeitenzahl
454
Maße (B/H)
15,6/23,4 cm
Gewicht
853 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-306-42140-2
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