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  • Produktbild: X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
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X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

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187,99 € UVP 213,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

31.03.1995

Abbildungen

XVIII, 372 p.

Herausgeber

Joseph Goldstein + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

372

Maße (L/B/H)

26/18,3/2,6 cm

Gewicht

940 g

Auflage

1995

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-44858-4

Beschreibung

Rezension

`
[A] rich and authoritative collection of papers, which have both a historical and an up-to-the-minute dimension.
'



from the Foreword by
Peter Duncumb, University of Cambridge, England




`
Contains a vast amount of detailed information and will surely be heavily used.
'




Ultramicroscopy

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Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

31.03.1995

Abbildungen

XVIII, 372 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

372

Maße (L/B/H)

26/18,3/2,6 cm

Gewicht

940 g

Auflage

1995

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-44858-4

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Produktbild: X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
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  • The Development of Energy Dispersive Electron Probe Analysis; K.F.J. Heinrich. Problems and Trends in X-ray Detector Design for Microanalysis; B.G. Lowe. New Materials for Thin Windows; M.W. Lund. Intrinsic Ge Detectors; R. Sareen. Modeling the Energy-dispersive X-ray Detector; D.C. Joy. The Effect of Detector Dead Layers on Light Element Detection; J.J. McCarthy. Energy-dispersive X-ray Spectrometry in Ultra-high Vacuum Environments; J.R. Michael. Quantifying Benefits of Resolution and Count Rate in EDX Microanalysis; P.J. Statham. Improving EDS Performance with Digital Pulse Processing; R.B. Mott, J.J. Friel. A Study of Systematic Errors in Multiple Linear Regression Peak Fitting Using Generated Spectra; C.R. Swyt. Artifacts in Energy-dispersive X-ray Spectrometry in Electron Beam Instruments: Are Things Getting Any Better?; D.E. Newbury. Characterizing an Energy-dispersive Spectrometer on an Analytical Electron Microscope; S.M. Zemyan, D.B. Williams. Wavelength Dispersive Spectrometry - A Review; S.J.B. Reed. Synthetic Multilayer Crystals for EPMA of Ultralight Elements; G.F. Bastin, H.J.M. Heijligers. 4 additional articles. Index.