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Hochintegrierte Schaltungen: Prüfgerechter Entwurf und Test

54,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.02.1991

Abbildungen

XIII, 560 S. 45 Abb.

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

560

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/3,1 cm

Gewicht

861 g

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-540-53456-3

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.02.1991

Abbildungen

XIII, 560 S. 45 Abb.

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

560

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/3,1 cm

Gewicht

861 g

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-540-53456-3

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • 1 Einleitung.- 1.1 Das Testproblem für hochintegrierte Schaltungen.- 1.2 Teststrategien.- 1.3 Zum Aufbau des Buches.- 2 Technologische Grundlagen.- 2.1 Fertigungsprozesse und Fehlermechanismen.- 2.2 Ausbeutemodelle.- 2.3 Der Test.- 2.4 Die Produktqualität.- 3 Schaltungs- und Fehlermodellierung.- 3.1 Ebenen der Schaltungsmodellierung.- 3.2 Die Layout-Ebene.- 3.3 Die Schalterebene.- 3.4 Die Gatterebene.- 4 Fehlersimulation.- 4.1 Prinzip der Logiksimulation.- 4.2 Klassische Verfahren der Fehlersimulation.- 4.3 Innovative Simulationsverfahren.- 4.4 Komplexität der Fehlersimulation.- 4.5 Approximative Verfahren.- 4.6 Simulation von Verzögerungs-und Übergangsfehlern.- 5 Prüfpfad-Techniken.- 5.1 Synchrone Schaltungen.- 5.2 Prüfpfad für flankengesteuerte Elemente.- 5.3 LSSD: “Level-Sensitive Scan-Design”.- 5.4 Der Prüfbus (“Random Access Scan”).- 5.5 “Scan/Set”-Logik.- 5.6 Auswirkungen der Prüfpfadtechnik auf Test und Systemfunktion.- 5.7 Standardisierung.- 6 Der Test mit Zufallsmustern.- 6.1 Test mit linear rückgekoppelten Schieberegistern.- 6.2 Der Testaufbau.- 6.3 Testlängen.- 6.4 Signalwahrscheinlichkeiten.- 6.5 Fehlererkennungswahrscheinlichkeiten.- 6.6 Ungleichverteilte Zufallsmuster.- 7 Deterministische Testerzeugung für Schaltnetze.- 7.1 Klassische Verfahren.- 7.2 Die Komplexität deterministischer Testerzeugimg für Schaltnetze.- 7.3 Testbarkeitsmaße für den deterministischen Test.- 7.4 Innovative Testerzeugungsverfahren.- 7.5 Vollständige Testerzeugungsprogramme.- 8 Der pseudo-erschöpfende Test.- 8.1 Das Prinzip des pseudo-erschöpfenden Tests.- 8.2 Schaltungssegmentierung.- 8.3 Pseudo-erschöpfende Testmengen.- 8.4 Pseudo-erschöpfender Test für Übergangs- und Verzögerungsfehler.- 9 Teststrategien für Schaltwerke.- 9.1 ZurKomplexität des Schaltwerkstests.- 9.2 Deterministische Testerzeugung für Schaltwerke.- 9.3 Azyklische Schaltwerksgraphen.- 9.4 Erzeugung und Anwendung deterministischer Testmuster bei azyklischem S-Graph.- 9.5 Zufallstestbare Schaltwerke.- 9.6 Der pseudo-erschöpfende Test für Schaltwerke.- 10 Selbsttestbare Schaltungen.- 10.1 Gespeicherter Selbsttest.- 10.2 Multifunktionale Testregister.- 10.3 Plazierung multifunktionaler Testregister.- 10.4 Testablaufplanung.- 10.5 Synthese der Selbstteststeuerung.- 11 Testverfahren für spezielle Strukturen.- 11.1 PLAs.- 11.2 Test von Speicherfeldern.- 11.3 Ausblick.- Literatur.- Stichwortverzeichnis.