Erhard Hornbogen, Birgit Skrotzki

Mikro- und Nanoskopie der Werkstoffe (eBook, PDF)

• Format: PDF

Produktbeschreibung

Das Buch führt in die mikroskopische Strukturanalyse von Werkstoffen ein, vor allem von Metallen, aber auch Halbleitern, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen. Die Methoden werden systematisch erörtert, wobei neben der Licht- und Rasterelektronenmikroskopie die Transmissionselektronenmikroskopie sowie die Spektroskopie im Mittelpunkt stehen. Die 3. Auflage wurde gründlich bearbeitet und aktualisiert. Geeignet für Studierende der Werkstoffwissenschaften ebenso wie für Naturwissenschaftler und Ingenieure, die einen Einstieg in das Gebiet suchen.

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Produktdetails

• Verlag: Springer-Verlag GmbH
• Seitenzahl: 248
• Erscheinungstermin: 14. August 2009
• Deutsch
• ISBN-13: 9783540899464
• Artikelnr.: 44122435

Autorenporträt

Prof. em. Dr.-Ing. Dr. h.c. Erhard Hornbogen

studierte Metallkunde an der TH-Stuttgart. Nach Forschung (US Steel, Monroeville, USA; MPI und TU Stuttgart) Professur für Metallphysik in Göttingen. 1968-1995 Professor für Werkstoffwissenschaft an der Universität Bochum. Forschungsschwerpunkte: Einfluss der Mikrostruktur auf Werkstoffeigenschaften; Bedeutung von Werkstoffen in Technik und Gesellschaft. Autor mehrerer Lehrbücher

Inhaltsangabe

1 Systematik und Methoden zur Kennzeichnung des Aufbaus der Werkstoffe .................................................................................................. 1.1 Einleitung.......................................................................................... 1.2 Systematik des Gefüges................................................................... 1.3 Verschiedene optische Verfahren zur Analyse des Aufbaus der Werkstoffe ............................................................................................ 1.3.1 Lichtmikroskopie..................................................................... 1.3.2 Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ......................... 1.3.3 Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM) .............. 1.3.4 Feldionenmikroskopie (FIM) und Atomsondenspektroskopie 1.3.5 Emissionsmikroskopie............................................................. 1.3.6 Elektronenstrahlmikrosonde (ESMA) ..................................... 1.3.7 Rasterelektronenmikroskop (REM)......................................... 1.3.8 Focused Ion Beam (FIB) ......................................................... 1.3.9 Rastersondenmikroskopie (SPM) ............................................ 1.3.10 Computertomographie (CT) .................................................. 1.4 Nanostrukturen ........................................................................... 1.5 Kombination der Untersuchungsverfahren................................... Literatur ............................................................................................ 2 Herstellung von Proben................................................................ 2.1 Einleitung..................................................................................... 2.2Vorzerkleinern................................................................................ 2.3 Vordünnen ...................................................................................... 2.4 Dünnpolieren .................................................................................. 2.5 Ionendünnen ................................................................................... 2.6 Zielpräparation................................................................................ 2.7 Focused Ion Beam.......................................................................... 2.8 Einführung der Probe in den Probenhalter ..................................... Literatur ............................................................................................... 3 Elektronenbeugung.......................................................................... X Inhalt 3.1 Einleitung........................................................................................ 3.2 Benennung von Kristallstrukturen.................................................... 3.3 Auswertung der Beugungsbilder ..................................................... 3.4 Simulation von Beugungsbildern ..................................................... 3.5 Intensität der Reflexe...................................................................... 3.6 Kikuchi-Linien................................................................................ 3.7 Weitere Information aus Beugungsbildern....................................... 3.8 Konvergente Beugung ..................................................................... 3.9 Beugung an Gläsern und Quasikristallen ........................................ Literatur ................................................................................................ 4 Durchstrahlung