Broschiertes Buch
Characterization by Atomic Force Microscopy
Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008
22. November 2010
Springer / Springer Berlin Heidelberg / Springer, Berlin
978-3-642-09327-2
| Gebundenes Buch | 75,99 € |
Gebundenes Buch
Characterization by Atomic Force Microscopy
2008
17. Dezember 2007
Springer / Springer Berlin Heidelberg / Springer, Berlin
11392606,978-3-540-73993-7
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