David RedfieldRichard H. BubeGebundenes BuchPhoto-induced Defects in Semiconductors Versandkostenfrei!Versandfertig in 1-2 Wochen101,99 €inkl. MwSt. Jetzt bewerten In den WarenkorbWeitere Ausgaben: Broschiertes Buch PAYBACK Punkte 51 °P sammeln! BeschreibungBewertungProduktdetails A thorough review of the properties of deep-level, localised defects in semiconductors. ProduktdetailsVerlag: Cambridge University PressSeitenzahl: 230Erscheinungstermin: 7. Januar 2016 EnglischAbmessung: 235mm x 157mm x 18mmGewicht: 530gISBN-13: 9780521461962ISBN-10: 0521461960Artikelnr.: 21335602HerstellerkennzeichnungLibri GmbHEuropaallee 136244 Bad Hersfeldgpsr@libri.de Für dieses Produkt wurde noch keine Bewertung abgegeben. Wir würden uns sehr freuen, wenn du die erste Bewertung schreibst! Eine Bewertung schreiben Andere Kunden interessierten sich für Borstel Defects and Surface-Induced Effects in … 77,99 € Borstel Defects and Surface-Induced Effects in … 78,99 € Parmod Kumar, … Ion Beam Induced Defects and Their … 34,99 € Brant E Kananen Characterization of Neutron-Induced … 28,99 € A. V. Chadwick, M. … Defects in Solids 40,99 € Reinhard … Positron Annihilation in Semiconductors 151,99 € Atomic Transport and Defects in Metals … 77,99 € Bernard Pajot Optical Absorption of Impurities and … 113,99 € M. Lannoo Point Defects in Semiconductors I 39,99 € Bernard Pajot Optical Absorption of Impurities and … 113,99 €