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Probing the traps in field-effect transistors
2013
7. Mai 2013
Springer / Springer Netherlands
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Broschiertes Buch
Second International Conference, FGCN 2008, Workshops and Symposia, Sanya, Hainan Island, China, December 13-15, 2008. Revised Selected Papers
2009
2. November 2009
Springer / Springer Berlin Heidelberg / Springer, Berlin
12792832,978-3-642-10237-0
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