
Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology VII (eBook, PDF)
PAYBACK Punkte
69 °P sammeln!
Defect control relies more and more upon advanced fabrication approaches such as the use of slow pulling rates and hydrogen annealing. Gettering techniques remain of key importance in enhancing the device yield.
Dieser Download kann aus rechtlichen Gründen nur mit Rechnungsadresse in A, B, BG, CY, CZ, D, DK, EW, E, FIN, F, GR, HR, H, IRL, I, LT, L, LR, M, NL, PL, P, R, S, SLO, SK ausgeliefert werden.