X-ray Diffraction at Elevated Temperatures
A Method for In Situ Process Analysis
Mitarbeit: Chung, Deborah D. L.; DeHaven, Patrick W.; Arnold, H.
Versandkostenfrei!
Versandfertig in 1-2 Wochen
67,99 €
inkl. MwSt.
PAYBACK Punkte
34 °P sammeln!
Andere Kunden interessierten sich für
