
George W. Zobrist
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VLSI Fault Modeling and Testing Techniques
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This text explores VLSI fault modelling and testing techniques and covers such topics as: physical fault modelling and simulation for VSLI MOS circuits; designing CMOS gates to test open faults; testing bridging faults in VLSI; and testable design synthesis models.
George W. Zobrist
Produktbeschreibung
- Verlag: Praeger
- Seitenzahl: 208
- Erscheinungstermin: 1. Januar 1993
- Englisch
- Abmessung: 222mm x 145mm x 16mm
- Gewicht: 431g
- ISBN-13: 9780893917814
- ISBN-10: 0893917818
- Artikelnr.: 25608805
Herstellerkennzeichnung
Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
gpsr@libri.de
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