Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation

Produktbeschreibung

• The Springer International Series in Engineering and Computer Science 73
• Verlag: Springer / Springer US / Springer, Berlin
• Artikelnr. des Verlages: 978-0-7923-9025-1
• 1989.
• Seitenzahl: 164
• Erscheinungstermin: 30. Juni 1989
• Englisch
• Abmessung: 241mm x 160mm x 14mm
• Gewicht: 413g
• ISBN-13: 9780792390251
• ISBN-10: 0792390253
• Artikelnr.: 22048740

Herstellerkennzeichnung