
Wai Kin Chim
Gebundenes Buch
Semiconductor Device and Failure Analysis
Using Photon Emission Microscopy
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Integrierte Schaltkreise werden immer komplexer - deshalb wird es zunehmend schwieriger, Fehler schnell und treffsicher aufzuspüren. Die Photonenemissionsmikroskopie (PEM) ist eine Analysetechnik auf physikalischer Grundlage, die sich als Fehlererkennungsmethode bewährt hat. Dieser Band erläutert alle Aspekte dieser Methode, von der instrumentellen Ausrüstung über spezifische Details der Mikroskope bis hin zu Merkmalen der Photonenemission unter verschiedenen Bedingungen. (11/00)
Wai Kin Chim is the author of Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscopy , published by Wiley.
Produktbeschreibung
- Verlag: Wiley & Sons
- 1. Auflage
- Seitenzahl: 288
- Erscheinungstermin: 22. Dezember 2000
- Englisch
- Abmessung: 260mm x 183mm x 20mm
- Gewicht: 532g
- ISBN-13: 9780471492405
- ISBN-10: 047149240X
- Artikelnr.: 09286922
Herstellerkennzeichnung
Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
gpsr@libri.de
"This reference details the principles of design, calibration, and use of photon emission microscopy (PEM) as a fault localization technique used for analyzing device reliability and failure." (SciTech Book News Vol. 25, No. 2 June 2001)
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