Zhong Lin WangWang Zhong LinBroschiertes BuchReflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis Versandkostenfrei!Versandfertig in 1-2 Wochen63,99 €inkl. MwSt. Jetzt bewerten In den Warenkorb PAYBACK Punkte 32 °P sammeln! BewertungProduktdetails ProduktdetailsVerlag: Cambridge University PressSeitenzahl: 460Erscheinungstermin: 31. Mai 2005 EnglischAbmessung: 244mm x 170mm x 25mmGewicht: 788gISBN-13: 9780521017954ISBN-10: 0521017955Artikelnr.: 22117806HerstellerkennzeichnungLibri GmbHEuropaallee 136244 Bad Hersfeldgpsr@libri.de Für dieses Produkt wurde noch keine Bewertung abgegeben. Wir würden uns sehr freuen, wenn du die erste Bewertung schreibst! Eine Bewertung schreiben Andere Kunden interessierten sich für Zhong Lin Wang Reflection Electron Microscopy and … 144,99 € Jukka A. Räty, … UV-Visible Reflection Spectroscopy of … 77,99 € André Hoffmann Systematic Research and Analysis of the … 49,99 € Steven Kämmer Characterisation of metallic particle … 27,95 € Interfaces in High-Tc Superconducting … 38,99 € David H. Krinsley, … Backscattered Scanning Electron … 61,99 € Strong Correlation and Superconductivity 77,99 € Vlas Sergeyevich … Optical characteristics of polymer … 24,99 € Daisuke Ogura Theoretical Study of Electron … 76,99 € Irwin Gillespie … An Examination Of The Munsell Color … 27,99 €