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Online-Testverfahren in der Mikrosystemtechnik. Untersuchung und Entwicklung von Selbsttestverfahren zur Unterstützung des Entwurfs von selbsttestfähigen diskreten Sensorsystemen
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Trotz einer steigenden Integration von elektronischen Systemen findet auch die diskrete Schaltungstechnik weiterhin eine starke Verbreitung in vielen Anwendungen und Produkten des täglichen Lebens. Hierbei werden gerade in höherwertigen und sicherheitskritischen Anwendungen bereits Selbsttests in die Systeme implementiert. Während jedoch Selbsttests in integrierten Systemen bereits wissenschaftlich umfassend untersucht und entsprechende Lösungen für Testprobleme publiziert werden, findet eine Betrachtung von Selbsttests für diskrete Systeme nur nebenläufig statt. Es zeigt sich jedoch, d...
Trotz einer steigenden Integration von elektronischen Systemen findet auch die diskrete Schaltungstechnik weiterhin eine starke Verbreitung in vielen Anwendungen und Produkten des täglichen Lebens. Hierbei werden gerade in höherwertigen und sicherheitskritischen Anwendungen bereits Selbsttests in die Systeme implementiert. Während jedoch Selbsttests in integrierten Systemen bereits wissenschaftlich umfassend untersucht und entsprechende Lösungen für Testprobleme publiziert werden, findet eine Betrachtung von Selbsttests für diskrete Systeme nur nebenläufig statt. Es zeigt sich jedoch, dass der Selbsttest für diskrete Systeme nur unter technisch erschwerten Randbedingungen bezüglich Entwurf, Realisierung und Verifikation möglich ist. Für einen unter diesen Randbedingungen wirtschaftlichen Testentwurf ist jedoch in Zukunft die wissenschaftliche Unterstützung in Form entsprechend neuer Lösungsansätze und Verfahren sinnvoll.
Die vorliegende Arbeit untersucht daher grundlegend die beim Test diskreter elektronischer Systeme vorliegenden Randbedingungen und die Anwendbarkeit von aus integrierten Schaltungen bekannten Entwurfsverfahren auf das Testproblem. Als Lösungsansatz zur Vereinfachung eines diskreten Testentwurfs wird die Realisierung eines diskreten Selbsttest-ICs dargestellt, dass einem zu testenden System hinzugefügt und über I/O-Pins an dieses System angepasst werden kann, um dieses System selbsttestfähig zu machen. Weiterhin wird gezeigt, dass Mikrocontroller basierte Systeme durch entsprechend neue Verfahren ohne größeren Aufwand selbsttestfähig gemacht werden können.
Die vorliegende Arbeit untersucht daher grundlegend die beim Test diskreter elektronischer Systeme vorliegenden Randbedingungen und die Anwendbarkeit von aus integrierten Schaltungen bekannten Entwurfsverfahren auf das Testproblem. Als Lösungsansatz zur Vereinfachung eines diskreten Testentwurfs wird die Realisierung eines diskreten Selbsttest-ICs dargestellt, dass einem zu testenden System hinzugefügt und über I/O-Pins an dieses System angepasst werden kann, um dieses System selbsttestfähig zu machen. Weiterhin wird gezeigt, dass Mikrocontroller basierte Systeme durch entsprechend neue Verfahren ohne größeren Aufwand selbsttestfähig gemacht werden können.