Modélisation du cantilever AFM

Modélisation du cantilever AFM

Dynamique d'un micro-cantilever

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La microscopie à force atomique (AFM) peut être utilisée pour la caractérisation de surfaces à l'échelle atomique et nanométrique dans des environnements aériens et liquides. L'AFM est essentiellement utilisé pour mesurer les propriétés mécaniques, chimiques et biologiques de l'échantillon étudié. L'AFM est composé d'un microcantilever excité par la base avec une nanopointe et d'un circuit de détection pour le balayage des images. La conception et l'analyse de ces microcantilevers est une tâche difficile dans la pratique en temps réel. Dans le présent travail, la conceptio...