Modélisation des circuits SIW par la méthode WCIP
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Dans cet ouvrage, la méthode WCIP "Wave Concept Iterative Process" a été utilisée pour la caractérisation des circuits électroniques Hyper Fréquences en technologie SIW "Substrate Integrated Waveguide". La méthode WCIP élimine les réflexions indésirables dues à la troncation du domaine du calcul, et elle ne nécessite pas des opérateurs des effets de bords. En outre, la relation champ courant est remplacée par une relation ondes incidentes et réfléchies. Cette relation des ondes est traduite par un coefficient de réflexion qui est toujours défini d'une part, et de module born...
Dans cet ouvrage, la méthode WCIP "Wave Concept Iterative Process" a été utilisée pour la caractérisation des circuits électroniques Hyper Fréquences en technologie SIW "Substrate Integrated Waveguide". La méthode WCIP élimine les réflexions indésirables dues à la troncation du domaine du calcul, et elle ne nécessite pas des opérateurs des effets de bords. En outre, la relation champ courant est remplacée par une relation ondes incidentes et réfléchies. Cette relation des ondes est traduite par un coefficient de réflexion qui est toujours défini d'une part, et de module borné entre '0' et '1' d'autre part. Cela permet une convergence qui est toujours assurée. Les résultats obtenus permettent de vérifier la stabilité inconditionnelle et la convergence rapide de la méthode proposée. Dans une seconde étape la précision et l'efficacité de la méthode est validées. En effet, une bonne concordance avec le logiciel Commercial HFSS est observée quelque soit l'application et la gamme de fréquence considérées. De plus un gain considérable en temps de calcul et en ressources mémoires demandées à été obtenu. Donc, la méthode itérative permet la caractérisation efficace des circuits SIW.
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