MeV-elektronenbestraling van Si heterostructuren

MeV-elektronenbestraling van Si heterostructuren

Versandkostenfrei!
Versandfertig in 6-10 Tagen
31,99 €
inkl. MwSt.
PAYBACK Punkte
16 °P sammeln!
Stralingsdefect generatie door hoog-energetische MeV-elektronenbestraling van n- en p-type Si-SiO2 structuur met verschillende soorten oxiden is bestudeerd. De morfologische veranderingen van SiO2-oxide tijdens de MeV-elektronenbestraling is door AFM waargenomen. Si+ ionen geïmplanteerde Si-SiO2 structuren voor en na MeV elektronenbestraling worden gepresenteerd. De herverdeling van zuurstof- en siliciumatomen en het genereren van Si-nanokristal tijdens MeV-elektronenbestraling werd waargenomen door respectievelijk RBS/C en AFM-technieken. Optische eigenschappen, fotoluminescentie en spectros...