In-process Laser-Messmethoden auf der Grundlage der Fourieranalyse
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Die hohen Messgeschwindigkeiten, die mit optischen Verfahren zu erreichen sind, erlauben es, optische Messsysteme in industrielle Produktionsprozesse zu integrieren.Das vorliegende Buch beschäftigt sich mit solchen in-process-fähigen Messmethoden, die in den letzten Jahren zunehmend an Bedeutung gewonnen haben. Es betrachtet sowohl »klassische« kohärent-optische Verfahren und Streulicht-Messtechniken als auch Speckle-Messverfahren, bei denen die Kohärenzeigenschaften des Lichtes genutzt werden, z.B. um die Rauheit technischer oder optischer Oberflächen zu charakterisieren.Die ausführli...
Die hohen Messgeschwindigkeiten, die mit optischen Verfahren zu erreichen sind, erlauben es, optische Messsysteme in industrielle Produktionsprozesse zu integrieren.
Das vorliegende Buch beschäftigt sich mit solchen in-process-fähigen Messmethoden, die in den letzten Jahren zunehmend an Bedeutung gewonnen haben. Es betrachtet sowohl »klassische« kohärent-optische Verfahren und Streulicht-Messtechniken als auch Speckle-Messverfahren, bei denen die Kohärenzeigenschaften des Lichtes genutzt werden, z.B. um die Rauheit technischer oder optischer Oberflächen zu charakterisieren.
Die ausführliche Darstellung der theoretischen Grundlagen basiert auf der Fourieranalyse, die als Mittel der Signalanalyse, als mathematisches Werkzeug zur Beschreibung von Beugungsvorgängen und der Ausbreitung elektromagnetischer Wellen sowie als Hilfsmittel der statistischen Optik zum Einsatz kommt.
Die zunächst theoretisch behandelten Themen werden jeweils durch praktische Anwendungsbeispiele ergänzt und erläutert.
Das vorliegende Buch beschäftigt sich mit solchen in-process-fähigen Messmethoden, die in den letzten Jahren zunehmend an Bedeutung gewonnen haben. Es betrachtet sowohl »klassische« kohärent-optische Verfahren und Streulicht-Messtechniken als auch Speckle-Messverfahren, bei denen die Kohärenzeigenschaften des Lichtes genutzt werden, z.B. um die Rauheit technischer oder optischer Oberflächen zu charakterisieren.
Die ausführliche Darstellung der theoretischen Grundlagen basiert auf der Fourieranalyse, die als Mittel der Signalanalyse, als mathematisches Werkzeug zur Beschreibung von Beugungsvorgängen und der Ausbreitung elektromagnetischer Wellen sowie als Hilfsmittel der statistischen Optik zum Einsatz kommt.
Die zunächst theoretisch behandelten Themen werden jeweils durch praktische Anwendungsbeispiele ergänzt und erläutert.
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