John J. HrenSrinivasa RanganathanBroschiertes BuchField-Ion Microscopy Versandkostenfrei!Versandfertig in 1-2 Wochen39,99 €inkl. MwSt. Jetzt bewerten In den WarenkorbWeitere Ausgaben: eBook, PDF PAYBACK Punkte 20 °P sammeln! BeschreibungBewertungProduktdetails Field-Ion Microscopy ProduktdetailsVerlag: Springer / Springer US / Springer, BerlinArtikelnr. des Verlages: 978-1-4899-6241-6 Softcover reprint of the original 1st ed. 1968Seitenzahl: 260Erscheinungstermin: 1. Januar 1968 EnglischAbmessung: 229mm x 152mm x 15mmGewicht: 385gISBN-13: 9781489962416ISBN-10: 1489962417Artikelnr.: 40817980HerstellerkennzeichnungSpringer-Verlag GmbHTiergartenstr. 1769121 HeidelbergProductSafety@springernature.com Für dieses Produkt wurde noch keine Bewertung abgegeben. Wir würden uns sehr freuen, wenn du die erste Bewertung schreibst! Eine Bewertung schreiben Andere Kunden interessierten sich für G. V. Samsonov Properties Index 38,99 € Practical Scanning Electron Microscopy 77,99 € Advances in Materials Characterization II 39,99 € Robert Jaffee Defects and Transport in Oxides 77,99 € David R. Rossington, … Advances in Materials Characterization 77,99 € James W. McCauley, … Materials Characterization for Systems … 77,99 € John J. Burke Fatigue 123,99 € Electronic Materials 40,99 € John J. Burke Fatigue 113,99 € David L. Cocke, … Design of New Materials 39,99 €
