John J. HrenSrinivasa RanganathanBroschiertes BuchField-Ion Microscopy Versandkostenfrei!Versandfertig in 1-2 Wochen39,99 €inkl. MwSt. Jetzt bewerten In den WarenkorbWeitere Ausgaben: eBook, PDF PAYBACK Punkte 20 °P sammeln! BeschreibungBewertungProduktdetails Field-Ion Microscopy ProduktdetailsVerlag: Springer / Springer US / Springer, BerlinArtikelnr. des Verlages: 978-1-4899-6241-6 Softcover reprint of the original 1st ed. 1968Seitenzahl: 260Erscheinungstermin: 1. Januar 1968 EnglischAbmessung: 229mm x 152mm x 15mmGewicht: 385gISBN-13: 9781489962416ISBN-10: 1489962417Artikelnr.: 40817980HerstellerkennzeichnungSpringer-Verlag KGSachsenplatz 4-61201 Wien, ATProductSafety@springernature.com Für dieses Produkt wurde noch keine Bewertung abgegeben. Wir würden uns sehr freuen, wenn du die erste Bewertung schreibst! Eine Bewertung schreiben Andere Kunden interessierten sich für G. V. Samsonov Properties Index 38,99 € Applications of Ion Beams to Metals 39,99 € Practical Scanning Electron Microscopy 77,99 € Advances in Materials Characterization II 39,99 € Robert Jaffee Defects and Transport in Oxides 77,99 € David R. Rossington, … Advances in Materials Characterization 77,99 € A. H. Agajanian Ion Implantation in Microelectronics 77,99 € James W. McCauley, … Materials Characterization for Systems … 77,99 € Herbert C. Brown The Nonclassical Ion Problem 77,99 € John J. Burke Fatigue 123,99 €
