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European Test Workshop (Etw 2000) [Postproceedings]

Beschreibung

The 25 papers cover delay testing and test scheduling, scan and functional testing, system testing, quiescent current testing, analog and mixed-signal testing, core-based testing, fault simulation and field programmable gate array testing, challenges in deep sub-micron testing, high level tests, mem

Produktdetails

• Verlag: Wiley
• 2000
• Seitenzahl: 181
• Erscheinungstermin: November 2000
• Englisch
• ISBN-13: 9780769507019
• ISBN-10: 0769507018
• Artikelnr.: 26755036