Etude aux interfaces des couches minces Cu/Au/Si et Pd/Au/Si
Chawki Benazzouz
Broschiertes Buch

Etude aux interfaces des couches minces Cu/Au/Si et Pd/Au/Si

Elaboration et Techniques de caractérisations des couches minces des systèmes ternaires Cu/Au/Si et Pd/Au/Si

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Des échantillons de Cu/Au,Au/Cu et Pd/Au sur Si(100),Si(111) ont été élaborés par évaporation thermique ensuite recuit sous vide entre 100-650°C/30min. La caractérisation de ces échantillons a été effectuée par la rétrodiffusion de Rutherford RBS,la diffraction des rayons X,la microscopie életronique à balayage avec l'énergie dispersive à rayons X qui lui est associée. L'approche de cette étude est de voir si la couche d'or interposée en sandwich joue le role d'une barrière de diffusion quand la température de la structure augmente. Après recuit thermique, pour le systè...