Estudo do Difrectómetro de Raios X (XRD)
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Uma preparação adequada da amostra é crucial para obter dados difractométricos de raios X de alta qualidade. Se a amostra não foi colocada dentro dos parâmetros para preparar adequadamente a amostra de DRX, então introduz erros que tornam a identificação de fase difícil a impossível e estimativas de abundância e cristalinidade erradas. Idealmente, poderíamos preferir conduzir três condições de modo a possuir bons dados: (a) Aleatoriedade total da orientação cristalina. (b) Número suficiente de cristais para induzir uma distribuição de intensidade representativa para a amos...
Uma preparação adequada da amostra é crucial para obter dados difractométricos de raios X de alta qualidade. Se a amostra não foi colocada dentro dos parâmetros para preparar adequadamente a amostra de DRX, então introduz erros que tornam a identificação de fase difícil a impossível e estimativas de abundância e cristalinidade erradas. Idealmente, poderíamos preferir conduzir três condições de modo a possuir bons dados: (a) Aleatoriedade total da orientação cristalina. (b) Número suficiente de cristais para induzir uma distribuição de intensidade representativa para a amostra. (c) Intensidade de difracção suficiente para satisfazer as estatísticas de contagem. Este documento destaca os métodos de preparação perfeita da amostra de XRD de sólidos, líquidos e gases. Os materiais estruturalmente alterados em resposta à interacção entre os sólidos e os gases possuem grande importância em muitas áreas. As estruturas de raios X de ligas líquidas de sódio, potássio e sódio-potássio são investigadas por um método melhorado. Utilizando uma técnica de reservatório, uma superfície plana de metal líquido foi examinada por um raio-X monocromático num difractómetro extremamente concentrado.
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