Emisiones ópticas de productos de pulverización metálica de Ni, Cr, Ti
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Este trabajo lo lleva a cabo el equipo SIAM (Espectroscopia e Imagen Atómica de Materiales) de la Universidad Cadi Ayyad. Se trata de utilizar la técnica SIPS para estudiar la luminiscencia de muestras de Ni, Cr, Ti y los óxidos NiO y Cr2O3. Los blancos se bombardean con iones Kr+ de 5 keV con un ángulo de 65° respecto a la normal, y el rango espectral explorado abarca desde el UV cercano hasta el visible. Los estudios que hemos llevado a cabo pueden resumirse como sigue: * Demostración de las emisiones ópticas de los productos de pulverización catódica de tres metales: níquel, cromo...
Este trabajo lo lleva a cabo el equipo SIAM (Espectroscopia e Imagen Atómica de Materiales) de la Universidad Cadi Ayyad. Se trata de utilizar la técnica SIPS para estudiar la luminiscencia de muestras de Ni, Cr, Ti y los óxidos NiO y Cr2O3. Los blancos se bombardean con iones Kr+ de 5 keV con un ángulo de 65° respecto a la normal, y el rango espectral explorado abarca desde el UV cercano hasta el visible. Los estudios que hemos llevado a cabo pueden resumirse como sigue: * Demostración de las emisiones ópticas de los productos de pulverización catódica de tres metales: níquel, cromo y titanio y sus óxidos, bombardeados en el vacío (mejor que 10-7 torr). * Interpretación del efecto del oxígeno en los espectros de luminiscencia. * Examen y aplicación del modelo de intercambio de electrones. Estimación de la afinidad electrónica y del band gap de los óxidos.
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