
Diagnostic de defaillances de systemes optoelectroniques
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Ce mémoire présente les travaux de conception et de réalisation d'un banc de mesures de paramètres électriques et optiques dédié au diagnostic de défaillances de systèmes optoélectroniques émissifs infrarouge (880 - 1550 nm). Des simulations physiques non-linéaires par éléments finis ont été effectuées afin de déterminer la susceptibilité thermomécanique d'un module optoélectronique émissif complet DFB 1550 nm.