Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997
485,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Lieferung nach Hause
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
01.01.1998
Verlag
Taylor & FrancisSeitenzahl
524
Maße (L/B/H)
24/16,1/3,4 cm
Gewicht
975 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-7503-0500-6
Noch keine Bewertungen vorhanden
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.
Kurze Frage zu unserer Seite
Vielen Dank für dein Feedback
Wir nutzen dein Feedback, um unsere Produktseiten zu verbessern. Bitte habe Verständnis, dass wir dir keine Rückmeldung geben können. Falls du Kontakt mit uns aufnehmen möchtest, kannst du dich aber gerne an unseren Kund*innenservice wenden.
zum Kundenservice