CONTRÔLE DE PERFORMANCE DE CIRCUITS ANALOGIQUES
APRÈS LA MISE EN BOÎTIER
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Le contrôle des performances des structures analogiques constitue un objectif de conception majeur. L'évolution des technologies et la diminution résultante des tensions d'alimentation rendent ce contrôle de plus en plus délicat. L'objectif de ce travail de recherche est de proposer un nouveau système d'ajustement des performances des circuits analogiques après la mise en boîtier sans l'utilisation de broche dédiée. Après avoir situé le travail dans son contexte, l'état de l'art des techniques utilisées à ce jour a été présenté et un nouveau concept d'ajustement après la mi...
Le contrôle des performances des structures analogiques constitue un objectif de conception majeur. L'évolution des technologies et la diminution résultante des tensions d'alimentation rendent ce contrôle de plus en plus délicat. L'objectif de ce travail de recherche est de proposer un nouveau système d'ajustement des performances des circuits analogiques après la mise en boîtier sans l'utilisation de broche dédiée. Après avoir situé le travail dans son contexte, l'état de l'art des techniques utilisées à ce jour a été présenté et un nouveau concept d'ajustement après la mise en boîtier a été proposé. Dans le chapitre suivant, un nouveau composant claquable, le transistor MOS "snap-back" a été caractérisé et validé dans une technologie BiCMOS. Deux techniques d'ajustement de performances adaptées aux brochages des circuits considérés ont été développées et intégrées dans des circuits industriels. Dans le dernier chapitre, la fiabilité industrielle de ces deux systèmes de contrôle des performances des circuits analogiques a été démontrée.
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