Nicht lieferbar Jerod W. WilkersonBuchClosing the defect reduction gap between software inspection and test-driven development Versandkostenfrei!Nicht lieferbarNicht lieferbar Marktplatzangebote Ein Angebot für € 83,10 € BewertungProduktdetails ProduktdetailsVerlag: Proquest, Umi Dissertation PublishingISBN-13: 9781248986158Artikelnr.: 66599274HerstellerkennzeichnungDie Herstellerinformationen sind derzeit nicht verfügbar. Für dieses Produkt wurde noch keine Bewertung abgegeben. Wir würden uns sehr freuen, wenn du die erste Bewertung schreibst! Eine Bewertung schreiben