David J. Klinger, Yoshinao Nakada, Maria A. Menendez

Gebundenes Buch

AT&T Reliability Manual

Beschreibung

Partial Contents: Reliability Concepts; Device Reliability; Hazard Rates; Monitoring Reliability; Specific Device Information, and more. Appendixes. 60 illustrations.

Produktdetails

• Verlag: Springer / Springer US / Springer, Berlin
• Artikelnr. des Verlages: 978-0-442-31848-2
• 1999.
• Seitenzahl: 226
• Erscheinungstermin: 3. Februar 1999
• Englisch
• Abmessung: 264mm x 186mm x 18mm
• Gewicht: 694g
• ISBN-13: 9780442318482
• ISBN-10: 0442318480
• Artikelnr.: 21872926