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Dieses Fachbuch behandelt moderne Verfahren zur Charakterisierung von Dünnschicht-Solarzellen. Diese Verfahren sind für die Photovoltaik-Forschung und -Entwicklung relevant, sowohl im wissenschaftlichen Bereich als auch bei Unternehmen. Nach einer Einführung in die Dünnschicht-Photovoltaik erläutern Experten Methoden für die Geräte- und Materialcharakterisierung, wie die Elektrolumineszenz-Analyse, die Kapazitätsspektroskopie sowie verschiedene mikroskopische Verfahren. Am Ende des Buches werden Simulationstechniken vorgestellt, die für ab-initio-Berechnungen entsprechender Halbleiter und für…mehr

Produktbeschreibung
Dieses Fachbuch behandelt moderne Verfahren zur Charakterisierung von Dünnschicht-Solarzellen. Diese Verfahren sind für die Photovoltaik-Forschung und -Entwicklung relevant, sowohl im wissenschaftlichen Bereich als auch bei Unternehmen. Nach einer Einführung in die Dünnschicht-Photovoltaik erläutern Experten Methoden für die Geräte- und Materialcharakterisierung, wie die Elektrolumineszenz-Analyse, die Kapazitätsspektroskopie sowie verschiedene mikroskopische Verfahren. Am Ende des Buches werden Simulationstechniken vorgestellt, die für ab-initio-Berechnungen entsprechender Halbleiter und für Gerätesimulationen in bis zu 3 Dimensionen verwendet werden.
Diese neue Auflage baut auf einem bewährten Konzept auf und beschäftigt sich auch mit transienten optoelektronischen Methoden und der Fotostrom-Spektroskopie, der Charakterisierung des Dünnschichtwachstums in Echtzeit und vor Ort sowie mit Simulationen auf Basis der Molekulardynamik.
  • Produktdetails
  • Verlag: Wiley-VCH
  • 2nd ed.
  • Seitenzahl: 681
  • Erscheinungstermin: 3. September 2016
  • Englisch
  • Abmessung: 249mm x 177mm x 46mm
  • Gewicht: 1919g
  • ISBN-13: 9783527339921
  • ISBN-10: 3527339922
  • Artikelnr.: 44735854
Inhaltsangabe
Volume 1

INTRODUCTION
Introduction to Thin-Film Photovoltaics

DEVICE CHARACTERIZATION
Fundamental Electrical Characterization of Thin-Film Solar Cells
Electroluminescence Analysis of Solar Cells and Solar Modules
Capacitance Spectroscopy of Thin-Film Solar Cells
Time-of-Flight Analysis
Transient Optoelectronic Characterization of Thin-Film Solar Cells
Steady-State Photocarrier GratingMethod

MATERIALS CHARACTERIZATION
Absorption and Photocurrent Spectroscopy with High Dynamic Range
Spectroscopic Ellipsometry
Characterizing the Light-Trapping Properties of Textured Surfaces with Scanning Near-Field OpticalMicroscopy
Photoluminescence Analysis of Thin-Film Solar Cells
Electron-Spin Resonance (ESR) in Hydrogenated Amorphous Silicon (a-Si:H)
Scanning ProbeMicroscopy on Inorganic Thin Films for Solar Cells
Electron Microscopy on Thin Films for Solar Cells
X-ray and Neutron Diffraction on Materials for Thin-Film Solar Cells

Volume 2

In Situ Real-Time Characterization of Thin-Film Growth
Raman Spectroscopy on Thin Films for Solar Cells
Soft X-ray and Electron Spectroscopy: A Unique "Tool Chest" to Characterize the Chemical and Electronic Properties of Surfaces and Interfaces
Accessing Elemental Distributions in Thin Films for Solar Cells
Hydrogen Effusion Experiments

MATERIALS AND DEVICE MODELING
Ab Initio Modeling of Defects in Semiconductors
Molecular Dynamics Analysis of Nanostructures
One-Dimensional Electro-Optical Simulations of Thin-Film Solar Cells
Two- and Three-Dimensional ElectronicModeling of Thin-Film Solar Cells

Index