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Dieses Lehrbuch für Fortgeschrittene behandelt die geometrische, chemische und Elektronenstruktur elektronischer Materialien und ihre Anwendung auf Bauelemente mit Halbleiter-Grenzflächen, Metall-Halbleiter-Grenzflächen und Halbleiter-Heterokontakten. Ausgehend von der theoretischen und technischen Erläuterung üblicher Messverfahren wird ein breites Spektrum von Methoden zur Charakterisierung elektronischer, optischer, chemischer und struktureller Eigenschaften vorgestellt, die sich nicht nur für Halbleiter, sondern auch für Isolatoren, Nanostrukturen und organische Werkstoffe eignen.…mehr

Produktbeschreibung
Dieses Lehrbuch für Fortgeschrittene behandelt die geometrische, chemische und Elektronenstruktur elektronischer Materialien und ihre Anwendung auf Bauelemente mit Halbleiter-Grenzflächen, Metall-Halbleiter-Grenzflächen und Halbleiter-Heterokontakten. Ausgehend von der theoretischen und technischen Erläuterung üblicher Messverfahren wird ein breites Spektrum von Methoden zur Charakterisierung elektronischer, optischer, chemischer und struktureller Eigenschaften vorgestellt, die sich nicht nur für Halbleiter, sondern auch für Isolatoren, Nanostrukturen und organische Werkstoffe eignen. Großzügige Literaturhinweise erleichtern, wenn gewünscht, das tiefere Einarbeiten. Mit zahlreichen Beispielen und Übungsaufgaben!

Dieser Download kann aus rechtlichen Gründen nur mit Rechnungsadresse in A, D ausgeliefert werden.

  • Produktdetails
  • Verlag: Wiley-VCH
  • Erscheinungstermin: 25.06.2012
  • Englisch
  • ISBN-13: 9783527665730
  • Artikelnr.: 37346004
Autorenporträt
Leonard Brillson is a professor of Electrical & Computer Engineering, Physics, and Center for Materials Research Scholar at The Ohio State University in Columbus, OH, USA. Prior to that, he was director of Xerox Corporation's Materials Research Laboratory and had responsibility for Xerox's long-range physical science and technology programs at the company's research headquarters in Rochester, N.Y. He is a Fellow of IEEE, AAAS, AVS, and APS, and a former Governing Board member of the American Institute of Physics. He has authored over 300 scientific publications and received numerous scientific awards, including the AVS Gaede-Langmuir Award.
Inhaltsangabe
Preface 1. Introduction 2. Historical Background 3. Electrical Measurements 4. Interface states 5. Ultrahigh vacuum technology 6. Surface and interface analysis 7. Photoemission spectroscopy 8. Photoemission with soft X
rays 9. Particle
solid scattering 10. Electron energy loss spectroscopy 11. Rutherford backscattering spectrometry 12. Secondary ion mass spectrometry 13. Electron diffraction 14. Scanning tunneling microscopy 15. Optical spectroscopies 16. Cathodoluminescence spectroscopy 17. Electronic Materials' Surfaces 18. Adsorbates on Electronic Materials' Surfaces 19. Adsorbate
Semiconductor Sensors 20. Heterojunctions 21. Metals on semiconductors 22. The future of interfaces Appendices