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Laserbasierte Messverfahren sind heute unverzichtbar sowohl in der Hochtechnologie als auch bei der Qualitätssicherung in der Industrie. Die interferometrische Holografie wird eingesetzt zur Verformungs- und Spannungsanalyse, zur Bestimmung von Brechzahlverteilungen und zur zerstörungsfreien Prüfung. Das Handbuch bietet sowohl die physikalischen Grundlagen als auch die numerischen Methoden und stellt den Anwendern (Ingenieuren und Physikern) ein Material zur Verfügung, das sie bei der Planung, Durchführung und Evaluierung holografisch-interferometrischer Messungen unterstützt. Moderne…mehr

Produktbeschreibung
Laserbasierte Messverfahren sind heute unverzichtbar sowohl in der Hochtechnologie als auch bei der Qualitätssicherung in der Industrie. Die interferometrische Holografie wird eingesetzt zur Verformungs- und Spannungsanalyse, zur Bestimmung von Brechzahlverteilungen und zur zerstörungsfreien Prüfung. Das Handbuch bietet sowohl die physikalischen Grundlagen als auch die numerischen Methoden und stellt den Anwendern (Ingenieuren und Physikern) ein Material zur Verfügung, das sie bei der Planung, Durchführung und Evaluierung holografisch-interferometrischer Messungen unterstützt. Moderne Digitaltechnik hat diese Methode in den letzten Jahren grundlegend verändert. Digitale Bilderfassung und leistungsfähigere Computersysteme haben zu einer weiten Verbreitung der holografisch-interferometrischen Verfahren geführt. Im Handbuch wird ausführlich auf die Möglichkeiten eingegangen, die sich aus den neuesten Entwicklungen der digitalen Bildaufnahme und -verarbeitung ergeben.
  • Produktdetails
  • Verlag: Wiley VCH Verlag GmbH / Wiley-VCH
  • Artikelnr. des Verlages: 1140546 000
  • Erscheinungstermin: 25. Oktober 2004
  • Deutsch, Englisch
  • Abmessung: 247mm x 180mm x 34mm
  • Gewicht: 1192g
  • ISBN-13: 9783527405466
  • ISBN-10: 3527405461
  • Artikelnr.: 13080486
Autorenporträt
T. Kreis, BIAS Bremen

Thomas Kreis, Ph.D., Senior Scientist,
Head of the Department of Coherent Optics,
BIAS -- Bremen Institute for Applied Beam Technology, Klagenfurter Str. 2, 28359 Bremen, Germany
Inhaltsangabe
1 Introduction
2 Optical Foundations of Holography
3 Digital Recording and Numerical Reconstruction of Wave Fields
4 Holographic Interferometry
5 Quantitative Determination of the Interference Phase
6 Processing of the Interference Phase
7 Speckle Metrology
A Signal Processing Fundamentals
B Computer Aided Tomography
C Bessel Functions
Rezensionen
"Dr. Thomas Kreis, Wissenschaftler am Bremer Institut für Angewandte Strahlentechnik (BIAS) und Lehrbeauftragter an der Universität Bremen, gibt mit diesem Buch einen umfassenden Überblick über die physikalischen Grundlagen, Methoden und Anwendungen der holographischen Inferometrie."

adhäsion - Das Fachmagazin für industrielle Kleb- und Dichttechnik, 1-2/2005