eBooks: Feldeffekttransistoren


Bauelemente (eBook, PDF)
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Klaus Beuth
Olaf Beuth
Bauelemente (eBook, PDF)
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31. Dezember 2022
Vogel Business Media
Prüfungsfragen zur Elektronik (eBook, PDF)
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Peter Baumann
Prüfungsfragen zur Elektronik (eBook, PDF)
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2. Oktober 2013
Gabler, Betriebswirt.-Vlg
Scanning Probe Lithography (eBook, PDF)
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Hyongsok T. Soh
Kathryn Wilder Guarini
Calvin F. Quate
Scanning Probe Lithography (eBook, PDF)
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14. März 2013
Springer New York
Electric Aircraft Dynamics (eBook, PDF)
52,95 €
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Ranjan Vepa
Electric Aircraft Dynamics (eBook, PDF)
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29. Juli 2020
Taylor & Francis
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits (eBook, PDF)
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits (eBook, PDF)
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Springer-Verlag GmbH
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits (eBook, PDF)
161,95 €
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Yusuf Leblebici
Sung-Mo (Steve) Kang
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits (eBook, PDF)
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6. Dezember 2012
Springer New York
Advanced VLSI Design and Testability Issues (eBook, PDF)
40,95 €
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Advanced VLSI Design and Testability Issues (eBook, PDF)
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18. August 2020
Taylor & Francis
Nanowire Field Effect Transistors: Principles and Applications (eBook, PDF)
73,95 €
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Nanowire Field Effect Transistors: Principles and Applications (eBook, PDF)
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Springer-Verlag GmbH
FET Modeling for Circuit Simulation (eBook, PDF)
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Dileep A. Divekar
FET Modeling for Circuit Simulation (eBook, PDF)
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6. Dezember 2012
Springer New York
Digitaltechnik (eBook, PDF)
29,99 €
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Klaus Fricke
Digitaltechnik (eBook, PDF)
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15. April 2021
Springer-Verlag GmbH
Monte Carlo Device Simulation (eBook, PDF)
113,95 €
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Monte Carlo Device Simulation (eBook, PDF)
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6. Dezember 2012
Springer US
Tunnel Field-effect Transistors (TFET) (eBook, PDF)
86,99 €
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Jagadesh Kumar Mamidala
Rajat Vishnoi
Pratyush Pandey
Tunnel Field-effect Transistors (TFET) (eBook, PDF)
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27. September 2016
John Wiley & Sons
Grundlagen der Mikroelektronik 1 (eBook, PDF)
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Massoud Momeni
Grundlagen der Mikroelektronik 1 (eBook, PDF)
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13. August 2021
Springer Berlin Heidelberg
Computer-Aided Design and VLSI Device Development (eBook, PDF)
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Kit Man Cham
Soo-Young Oh
John L. Moll
Computer-Aided Design and VLSI Device Development (eBook, PDF)
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19. Dezember 2013
Springer New York
Tunnel Field-effect Transistors (TFET) (eBook, ePUB)
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Jagadesh Kumar Mamidala
Rajat Vishnoi
Pratyush Pandey
Tunnel Field-effect Transistors (TFET) (eBook, ePUB)
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27. September 2016
John Wiley & Sons
Einstieg in die Leistungselektronik mit PLECS (eBook, PDF)
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Götz Lipphardt
Einstieg in die Leistungselektronik mit PLECS (eBook, PDF)
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14. März 2022
Carl Hanser Verlag
Laboratory Manual for Electronics via Waveform Analysis (eBook, PDF)
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Edwin C. Craig
Laboratory Manual for Electronics via Waveform Analysis (eBook, PDF)
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6. Dezember 2012
Springer New York
Evaluierung eines STK 500 (eBook, ePUB)
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Jens Amberg
Evaluierung eines STK 500 (eBook, ePUB)
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4. Januar 2011
GRIN Verlag
Prüfungsfragen zur Elektronik (eBook, PDF)
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Peter Baumann
Prüfungsfragen zur Elektronik (eBook, PDF)
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1. September 2022
Springer Fachmedien Wiesbaden
Integrated Video-Frequency Continuous-Time Filters (eBook, PDF)
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Scott D. Willingham
Kenneth W. Martin
Integrated Video-Frequency Continuous-Time Filters (eBook, PDF)
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6. Dezember 2012
Springer New York
Digitaltechnik (eBook, PDF)
34,99 €**
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Klaus Fricke
Digitaltechnik (eBook, PDF)
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28. März 2018
Springer-Verlag GmbH
Development of HfO2-Based Ferroelectric Memories for Future CMOS Technology Nodes (eBook, PDF)
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Stefan Ferdinand Müller
Development of HfO2-Based Ferroelectric Memories for Future CMOS Technology Nodes (eBook, PDF)
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12. Oktober 2022
Books on Demand
MOSFET Modeling & BSIM3 User's Guide (eBook, PDF)
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Yuhua Cheng
Chenming Hu
MOSFET Modeling & BSIM3 User's Guide (eBook, PDF)
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8. Mai 2007
Springer New York
CMOS Analog Design Using All-Region MOSFET Modeling (eBook, ePUB)
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Marcio Cherem Schneider
CMOS Analog Design Using All-Region MOSFET Modeling (eBook, ePUB)
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28. Januar 2010
Cambridge University Press
Analysis and Design of MOSFETs (eBook, PDF)
113,95 €
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Juin Jei Liou
Adelmo Ortiz-Conde
Francisco Garcia-Sanchez
Analysis and Design of MOSFETs (eBook, PDF)
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6. Dezember 2012
Springer New York