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Cover Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
M. Grasserbauer, H. …
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS …
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M. Grasserbauer 
Analysis of Microelectronic Materials …
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