Produktbild: Scanning Probe Microscopy
- 12%

Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

12% sparen

139,99 € UVP 160,49 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Lieferung nach Hause

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

23.11.2010

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

282

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,7 cm

Gewicht

451 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-2306-6

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

23.11.2010

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

282

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,7 cm

Gewicht

451 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-2306-6

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: [email protected]

Kundinnen und Kunden meinen

0 Bewertungen

Informationen zu Bewertungen

Zur Abgabe einer Bewertung ist eine Anmeldung im Konto notwendig. Die Authentizität der Bewertungen wird von uns nicht überprüft. Wir behalten uns vor, Bewertungstexte, die unseren Richtlinien widersprechen, entsprechend zu kürzen oder zu löschen.

Die Bewertungen sind nach Format, Anzahl Sterne und Datum sortiert.

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kund*innen durch Ihre Meinung

Kundinnen und Kunden meinen

0 Bewertungen filtern

  • Produktbild: Scanning Probe Microscopy
  • The Physics of Scanning Probe Microscopes.- SPM: The Instrument.- Theory of Forces.- Electron Transport Theory.- Transport in the Low Conductance Regime.- Bringing Theory to Experiment in SFM.- Topographic images.- Single-Molecule Chemistry.- Current and Force Spectroscopy.- Outlook.