Reliability of Nanoscale Circuits and Systems Methodologies and Circuit Architectures
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Sprache:Englisch
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Beschreibung
Details
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
21.10.2010
Verlag
Springer UsSeitenzahl
195
Maße (L/B/H)
24,1/16/1,7 cm
Gewicht
506 g
Auflage
2011
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-4419-6216-4
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