Leseprobe öffnen Nicht lieferbar Head, A. K., P. Humble, L. M. Clarebrough, A. J. Morton and C. T. Forwood.BuchComputed electron micrographs and defect identification. Versandkostenfrei!Nicht lieferbarNicht lieferbar Marktplatzangebote Ein Angebot für € 29,00 € BewertungProduktdetails ProduktdetailsVerlag: Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973.ISBN-13: 9780720417579Artikelnr.: 42928237HerstellerkennzeichnungDie Herstellerinformationen sind derzeit nicht verfügbar. Für dieses Produkt wurde noch keine Bewertung abgegeben. Wir würden uns sehr freuen, wenn du die erste Bewertung schreibst! Eine Bewertung schreiben
