Leseprobe öffnen Head, A. K., P. Humble, L. M. Clarebrough, A. J. Morton and C. T. Forwood.BuchComputed electron micrographs and defect identification. Versandkostenfrei!Nicht lieferbarNicht lieferbar Marktplatzangebote Ein Angebot für € 29,00 € BewertungProduktdetails ProduktdetailsVerlag: Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973.ISBN-13: 9780720417579Artikelnr.: 42928237HerstellerkennzeichnungDie Herstellerinformationen sind derzeit nicht verfügbar. Für dieses Produkt wurde noch keine Bewertung abgegeben. Wir würden uns sehr freuen, wenn du die erste Bewertung schreibst! Eine Bewertung schreiben
