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Atom-Probe Tomography The Local Electrode Atom Probe

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

02.08.2014

Abbildungen

XVIII, 182 illus., 62 illus. in color., schwarz-weiss Illustrationen, farbige Illustrationen

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

423

Maße (L/B/H)

24,1/16/3 cm

Gewicht

828 g

Auflage

2014

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-7429-7

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Erscheinungsdatum

02.08.2014

Abbildungen

XVIII, 182 illus., 62 illus. in color., schwarz-weiss Illustrationen, farbige Illustrationen

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

423

Maße (L/B/H)

24,1/16/3 cm

Gewicht

828 g

Auflage

2014

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-7429-7

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: [email protected]

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  • Introduction: Atom Probe Tomography.- Historical Development.- Underlying Physics.- Applications to Microstructural Characterization. Instrumentation: Local Electrode Atom Probe.- Voltage and Laser Pulsing Methods.- Nano-Positioning Stage.- Energy Compensation.- Field Ion microscopy.- Specimen Preparation.- Requirements.- Electropolishing.- FIB-Based Methods.- Specimen Failure Mechanisms.- Data Reconstruction: Raw Data Conversion.- Element Assignment of Micro/Nano, Mass Spectra, Molecular and Complex Ions.- Resolutions.- Preferential Evaporation and Retention.- Detection Efficiency.- Atom Maps.- Simulations.- Analysis of Data: Composition Determination, Standard Error, Smoothing Methods.- Local Order Methods.- Concentration Profiles.- Contingency Tables.- Binomial Distributions.- Friend-of-Friends and Nearest Neighbor Methods- Appendices.