Advanced Materials Characterization Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions
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Sprache:Englisch
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
29.11.2024
Abbildungen
schwarz-weiss Illustrationen, Raster, schwarz-weiss, Zeichnungen, schwarz-weiss
Verlag
Taylor & FrancisSeitenzahl
144
Maße (L/B/H)
23,4/15,6/0,9 cm
Gewicht
231 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-03-237511-3
The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.
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